İplik Düzgünsüzlük Analizi için Kapasitif Ölçüm Devresi Tasarımı: Matematiksel Yaklaşım ve Gerçekleme


Gürkan K.

Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi, cilt.24, ss.5-11, 2020 (Hakemli Üniversite Dergisi)

  • Cilt numarası: 24 Konu: 1
  • Basım Tarihi: 2020
  • Dergi Adı: Süleyman Demirel Üniversitesi Fen Bilimleri Enstitüsü Dergisi
  • Sayfa Sayıları: ss.5-11

Özet

Tekstil sektörü, hızla gelişen ve Türkiye ihracatının büyük kısmını oluşturan bir sektör haline gelmiştir. Tekstil ürünlerinin dış piyasa ile rekabet edebilmesi için ürün kalitesinin artması gerekmektedir. Ürün kalitesi ise iplik kalitesine bağlı olarak değişebilmektedir. Bu çalışmada iplik kalitesini belirleyen parametrelerden biri olan iplik düzgünsüzlüğünün kapasitif olarak ölçümü için farksal paralel plaka yöntemine dayanan yeni bir ölçüm devresi önerisi yapılmış ve matematiksel olarak analiz edilmiştir. Paralel plakaların ve analog devrenin tasarım adımları, gerçeklenmesi, deney düzeneği anlatılmış ve ölçüm sonuçları irdelenmiştir. Tasarlanan devre ile düzgünsüzlük ölçümü oldukça hassas şekilde gerçekleştirilmiştir.

Textile sector has become a rapidly growing export sector constitutes a large part of Turkey. In order to compete with the foreign market, product quality needs to be increased. Product quality may vary depending on yarn quality. In this study, a new measurement circuit based on the differential parallel plate method was proposed and analyzed mathematically for the capacitive measurement of yarn unevenness, which is one of the parameters that determine the yarn quality. The design steps of the parallel plates and the analog circuit, their implementation, the experimental setup are explained and the measurement results are given. With the designed circuit, the yarn unevenness measurement was carried out very precisely.