An Application of Weibull Distribution to Hot Carrier Degradation in Threshold Voltage and Drain Current of MOS Transistors


ardalı a., KUNTMAN A. , KAÇAR F. , Kuntman H.

International Conference on Electrical and Electronics Engineering, Türkiye, ss.86-90

  • Yayın Türü: Bildiri / Tam Metin Bildiri
  • Basıldığı Ülke: Türkiye
  • Sayfa Sayıları: ss.86-90